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半導體芯片

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三箱式冷熱沖擊試驗箱

發(fā)布日期:2020/5/16 15:38:21  點擊次數(shù):20131
三箱式冷熱沖擊試驗箱用于溫度驟變循環(huán)的試驗系統(tǒng)。溫度驟變循環(huán)試驗是在生產(chǎn)階段激發(fā)產(chǎn)品潛在缺陷顯現(xiàn)的一種有效方式。

特點
試驗區(qū)被測試物品完全靜止
高溫槽和低溫槽開關(guān)閥根據(jù)指令智能輸送溫度至試驗區(qū)
可選擇始動,高溫和低溫位置開始循環(huán)
引線測試孔外加負載配線
采用觸摸式彩色液晶顯示控制器,操作簡易
溫度制御精度高,全部采PID自動演算制御
具有預約啟動功能
可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及自動除霜(可選配免除霜功能)
運轉(zhuǎn)狀態(tài)顯示,具有異常故障顯示及排除方法說明

設(shè)計+技術(shù)參數(shù)

型號

TYSTS-50

7YSTS-80

TYSTS-108

TYSTS-150

TYSTS-252

TYSTS-300

內(nèi)箱尺寸(W*H*D)mm

360X350X400

500X400X400

600X400X450

600X500X500

700X600X600

1000X600X500

外形尺寸(W*H*D)mm

1370X2100X2100

1470X2130X2100

1570X1980X2150

1570X2030X2200

1670X2130X2450

2120X2130X2450

容積/L

50L

80L

108L

150L

252L

300L

高溫預熱范圍

+ 60℃~+200℃

低溫預冷范圍

-10℃--70℃

高溫沖擊溫度范圍

+ 60℃~+150℃

低溫沖擊溫度范圍

0℃~-40℃; 0℃~-55℃; 0℃~-65℃ 可選

溫度分布均勻度

≤ ± 2℃

預熱區(qū)升溫速率(空載)

3℃/min

預冷區(qū)降溫速率(空載)

1℃/min

轉(zhuǎn)換時間

<10S

溫度解析度

0.01℃

溫度波動度

≤ ±0.5℃

覆歸時間

≤ 5min氣動風門切換二區(qū)或三區(qū)測試)

結(jié)構(gòu)

預冷區(qū)預熱區(qū)測試區(qū)固定類型的物體測試,可選擇 2 區(qū)或 3 區(qū)

氣門裝置

強制式空氣裝置氣門

內(nèi)箱材料

SUS#304不銹鋼

外箱材料

SECC + 粉體涂裝

測試柵盤

不銹鋼網(wǎng)架

冷凍系統(tǒng)

二元式

通訊接口

RS485/USB

冷卻方式

水冷式 Water cooling

電源

380VAC 3P + N 50HZ

符合標準

JESD22-A106B; GJB-150-A; MIL-STD-810G; MIL-STD-202G


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